Fundamental Principles of Engineering Nanometrology (ePub)
(Sprache: Englisch)
Fundamental Principles of Engineering Nanometrology provides a comprehensive overview of engineering metrology and how it relates to micro and nanotechnology (MNT) research and manufacturing. By combining established knowledge with the latest advances from...
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Produktinformationen zu „Fundamental Principles of Engineering Nanometrology (ePub)“
Fundamental Principles of Engineering Nanometrology provides a comprehensive overview of engineering metrology and how it relates to micro and nanotechnology (MNT) research and manufacturing. By combining established knowledge with the latest advances from the field, it presents a comprehensive single volume that can be used for professional reference and academic study.
- Provides a basic introduction to measurement and instruments
- Thoroughly presents numerous measurement techniques, from static length and displacement to surface topography, mass and force
- Covers multiple optical surface measuring instruments and related topics (interferometry, triangulation, confocal , variable focus, and scattering instruments)
- Explains, in depth, the calibration of surface topography measuring instruments (traceability; calibration of profile and areal surface texture measuring instruments; uncertainties)
- Discusses the material in a way that is comprehensible to even those with only a limited mathematical knowledge
Autoren-Porträt von Richard Leach
Richard Leach is a Principal Research Scientist in the Mass & Dimensional Group, Industry & Innovati
Bibliographische Angaben
- Autor: Richard Leach
- 2009, 352 Seiten, Englisch
- Verlag: Elsevier Science & Techn.
- ISBN-10: 1437778321
- ISBN-13: 9781437778328
- Erscheinungsdatum: 03.09.2009
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eBook Informationen
- Dateiformat: ePub
- Größe: 3.13 MB
- Mit Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
Kopierschutz
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