Nanoscale Redox Reaction at Metal/Oxide Interface

A Case Study on Schottky contact and ReRAM (Sprache: Englisch)
 
 
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This book examines the investigation and intentional control of metal/oxide interface structure and electrical properties with the data obtained using non-destructive methods such as x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and x-ray reflectometry (XRR).
Erscheint am 12.07.2020
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Bestellnummer: 94662582

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