Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers “
Bibliographische Angaben
- 1996, XVI, 429 Seiten, 271 Schwarz-Weiß-Abbildungen, Maße: 23,5 cm, Gebunden, Englisch
- Ed. by Günther Bauer and Wolfgang Richter
- Verlag: Springer, Berlin
- ISBN-10: 354059129X
- ISBN-13: 9783540591290
Sprache:
Englisch
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