Characterization in Silicon Processing (PDF)
(Sprache: Englisch)
This volume is devoted to the consideration of the use use of surface, thin film and interface characterization tools in support of silicon-based semiconductor processing. The approach taken is to consider each of the types of films used in silicon devices...
sofort als Download lieferbar
eBook (pdf)
54.95 €
27 DeutschlandCard Punkte sammeln
- Lastschrift, Kreditkarte, Paypal, Rechnung
- Kostenloser tolino webreader
Produktdetails
Produktinformationen zu „Characterization in Silicon Processing (PDF)“
This volume is devoted to the consideration of the use use of surface, thin film and interface characterization tools in support of silicon-based semiconductor processing. The approach taken is to consider each of the types of films used in silicon devices individually in its own chapter and to discuss typical problems seen throughout that films' history, including characterization tools which are most effectively used to clarifying and solving those problems.
Bibliographische Angaben
- 2013, 240 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Yale Strausser
- Verlag: Elsevier Science & Techn.
- ISBN-10: 0080523420
- ISBN-13: 9780080523422
- Erscheinungsdatum: 22.10.2013
Abhängig von Bildschirmgröße und eingestellter Schriftgröße kann die Seitenzahl auf Ihrem Lesegerät variieren.
eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 26 MB
- Mit Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
Kopierschutz
Dieses eBook können Sie uneingeschränkt auf allen Geräten der tolino Familie lesen. Zum Lesen auf sonstigen eReadern und am PC benötigen Sie eine Adobe ID.
Kommentar zu "Characterization in Silicon Processing"
0 Gebrauchte Artikel zu „Characterization in Silicon Processing“
Zustand | Preis | Porto | Zahlung | Verkäufer | Rating |
---|
Schreiben Sie einen Kommentar zu "Characterization in Silicon Processing".
Kommentar verfassen