Measurement Technology and its Application III (PDF)
Selected, peer reviewed papers from the 2014 International Conference on Measurement, Instrumentation and Automation (ICMIA 2014), April 23-24, 2014, Shanghai, China
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Selected, peer reviewed papers from the 2014 International Conference on Measurement, Instrumentation and Automation (ICMIA 2014), April 23-24, 2014, Shanghai, China
- 2014, 2130 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Prasad Yarlagadda, Yun Hae Kim
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3038265217
- ISBN-13: 9783038265214
- Erscheinungsdatum: 10.06.2014
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