Advanced Measurement and Test X (PDF)
(Sprache: Englisch)
Selected, peer reviewed papers from the 2010 International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2010), P.R. China
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Produktinformationen zu „Advanced Measurement and Test X (PDF)“
Selected, peer reviewed papers from the 2010 International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2010), P.R. China
Bibliographische Angaben
- 2010, 1730 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Yanwen Wu
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3038133531
- ISBN-13: 9783038133537
- Erscheinungsdatum: 07.06.2010
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Ohne Kopierschutz
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Sprache:
Englisch
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