Progress in Measurement and Testing (PDF)
Selected, peer reviewed papers from the 2010 International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2010), May 15-16, 2010, Sanya, P.R. China.
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Selected, peer reviewed papers from the 2010 International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2010), May 15-16, 2010, Sanya, P.R. China.
- 2010, 1586 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Yanwen Wu
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3038134074
- ISBN-13: 9783038134077
- Erscheinungsdatum: 11.05.2010
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