Elements of Electromigration (PDF)
In this invaluable resource for graduate students and practicing professionals, Tu and Liu provide a comprehensive account of electromigration and give a practical guide on how to manage its effects in microelectronic devices, especially newer devices that make use of 3D architectures.
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In this invaluable resource for graduate students and practicing professionals, Tu and Liu provide a comprehensive account of electromigration and give a practical guide on how to manage its effects in microelectronic devices, especially newer devices that make use of 3D architectures.
Dr. Yingxia Liu is an Assistant Professor at City University of Hong Kong. Dr. Liu received her Ph.D. from the Department of Materials Science and Engineering, University of California, Los Angeles in 2016 and her Bachelor's degree from the College of Chemistry and Molecular Engineering, Peking University in 2012.
- Autoren: King-Ning Tu , Yingxia Liu
- 2024, 1. Auflage, 142 Seiten, Englisch
- Verlag: Taylor & Francis
- ISBN-10: 1003827381
- ISBN-13: 9781003827382
- Erscheinungsdatum: 19.01.2024
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