Failure Analysis of Integrated Circuits / The Springer International Series in Engineering and Computer Science Bd.494 (PDF)
This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.
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This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.
- 2012, 1999, 255 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Lawrence C. Wagner
- Verlag: Springer, New York
- ISBN-10: 1461549191
- ISBN-13: 9781461549192
- Erscheinungsdatum: 06.12.2012
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- Dateiformat: PDF
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