Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XIV (PDF)
GADEST 2011
Selected, peer reviewed papers from the XIVth International Biannual Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor (GADEST 2011), September 25-30, 2011, Loipersdorf, Austria
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GADEST 2011
Selected, peer reviewed papers from the XIVth International Biannual Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor (GADEST 2011), September 25-30, 2011, Loipersdorf, Austria
- 2011, 516 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: W. Jantsch, Friedrich Schäffler
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3038135151
- ISBN-13: 9783038135159
- Erscheinungsdatum: 16.08.2011
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