Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XII (PDF)
GADEST 2007
Selected, peer reviewed papers from Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology - GADEST 2007" held from 14th to 19th October 2007 in Italy at the EMFCSC
105 DeutschlandCard Punkte sammeln
- Lastschrift, Kreditkarte, Paypal, Rechnung
- Kostenloser tolino webreader
GADEST 2007
Selected, peer reviewed papers from Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology - GADEST 2007" held from 14th to 19th October 2007 in Italy at the EMFCSC
- 2007, 648 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Anna Cavallini, Hans Richter, Martin Kittler, Sergio Pizzini
- Verlag: Trans Tech Publications
- ISBN-10: 3038131946
- ISBN-13: 9783038131946
- Erscheinungsdatum: 25.10.2007
Abhängig von Bildschirmgröße und eingestellter Schriftgröße kann die Seitenzahl auf Ihrem Lesegerät variieren.
- Dateiformat: PDF
- Ohne Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Zustand | Preis | Porto | Zahlung | Verkäufer | Rating |
---|
Schreiben Sie einen Kommentar zu "Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XII".
Kommentar verfassen