Optical Inspection of Microsystems, Second Edition (ePub)
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This book provides an up-to-date survey of the most important and widely used full-field optical metrology and inspection technologies. Techniques such as interference microscopy, laser Doppler vibrometry, holography, speckle metrology, spectroscopy and deflectrometry and digital holographic microscropy for the inspection of MEMS.
- 2019, 2. Auflage, 584 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Wolfgang Osten
- Verlag: Taylor & Francis
- ISBN-10: 0429532652
- ISBN-13: 9780429532658
- Erscheinungsdatum: 21.06.2019
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- Dateiformat: ePub
- Größe: 91 MB
- Ohne Kopierschutz
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