Random Testing of Digital Circuits (PDF)
Theory and Applications
(Sprache: Englisch)
"Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. "
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Random Testing of Digital Circuits (PDF)“
"Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. "
Autoren-Porträt von David
Rene David is a Research Director at the Centre National de la recherche Scientififique working at the Instuit National Polytechnique de Grenoble, France.
Bibliographische Angaben
- Autor: David
- 2020, 1. Auflage, 496 Seiten, Englisch
- Verlag: Taylor & Francis
- ISBN-10: 1000110168
- ISBN-13: 9781000110166
- Erscheinungsdatum: 25.11.2020
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 148 MB
- Ohne Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
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