Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces (PDF)
(Sprache: Englisch)
This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces. It describes modern models of secondary ion formation and the factors influencing sensitivity of measurements and the range of applications.
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Produktinformationen zu „Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces (PDF)“
This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces. It describes modern models of secondary ion formation and the factors influencing sensitivity of measurements and the range of applications.
Autoren-Porträt
V. Cherepin
Bibliographische Angaben
- 2020, 138 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: V. T. Cherepin
- Verlag: Taylor & Francis
- ISBN-10: 1466563737
- ISBN-13: 9781466563735
- Erscheinungsdatum: 28.04.2020
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 33 MB
- Ohne Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
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