Selected Topics In Electronics And Systems: Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices (PDF)
(Sprache: Englisch)
This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft...
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Produktinformationen zu „Selected Topics In Electronics And Systems: Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices (PDF)“
This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.
Bibliographische Angaben
- 2004, 348 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Daniel M Fleetwood, Ronald D Schrimpf
- Verlag: World Scientific Publishing Company
- ISBN-10: 9812794700
- ISBN-13: 9789812794703
- Erscheinungsdatum: 29.07.2004
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 23 MB
- Mit Kopierschutz
Sprache:
Englisch
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