Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen (PDF)

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen.

• Halbleiterdioden
• Bipolartransistoren
• HF-Transistoren mit Streuparametern
• Sperrschicht-Feldeffekttransistoren
• Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor
• Operationsverstärker
• Optokoppler
• NTC- und PTC-Sensoren
• RGB-Farbsensor
• Piezoelektrische Summer
• Ultraschallwandler
• Gassensoren
• Ionensensitiver Feldeffekttransistor
• Silizium-Solarzellen

• Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten
• Ingenieure und Physiker in der Praxis