Löhning, M: Analyse und Modellierung der Effekte von Abtast-

nichtstationärer Prozesse möglich. Desweiteren wird gezeigt, daß die Modellannahme eines (im weiteren Sinne) stationären stochastischen Eingangsprozesses am AD-Wandlereingang zu allgemeingültigen Ergebnissen führt, die nicht von der (u.U. unbekannten) Phasenlage bzw. dem (u.U. unbekannten) Phasenspektrum des Eingangssignals und ebenso wenig von der gewählten Abtastfrequenz abhängen.Bei der Analyse der durch Abtast-Jitter im AD-Wandler verursachten Störprozesse wird neben Betrachtungen zur resultierenden mittleren Störleistung und zum resultierenden mittleren Signal-Rausch-Verhältnis ein besonderes Augenmerk auf die analytische Beschreibung des Stör-Leistungsdichtespektrums (LDS) am AD-Wandlerausgang gelegt. Erst durch zusätzliche Aussagen zur spektralen Verteilung der Störleistung wird der Störprozeß hinreichend genau charakterisiert, so daß Rückschlüsse auf die Wirksamkeit potentieller Kompensationsverfahren möglich sind. Für Störprozesse, die durch stationären Abtast-Jitter (Apertur-Jitter) verursacht werden, läßt sich das LDS mittels DTFT-Transformation der in der Arbeit hergeleiteten Stör- Autokorrelationsfunktion berechnen. Im Fall der nichtstationären Takt-Jitter-Störungen ist das nicht möglich, da die resultierenden Störprozesse ebenfalls nichtstationär sind und somit kein LDS im eigentlichen Sinne besitzen. Die zugehörige Stör-AKF ist stark zeitvariant. Um dennoch Aussagen über die mittlere spektrale Verteilung der Störleistung treffen zu können, wird in der Arbeit eine Methode vorgeschlagen, die auf der zeitlichen Mittelung des für den resultierenden nichtstationären Störprozeß berechneten zeitdiskreten Rihaczek-Spektrums beruht. Am Beispiel der Takt-Jitter-Prozesse eines freilaufenden Oszillators und eines PLL-Oszillators wird gezeigt, daß dieser Ansatz zu einer aussagefähigen analytischen Beschreibung der mittleren spektralen Verteilung der jitterbedingten Fehlerleistung führt.Neben den analytischen Modellbeschreibungen der jitterbedingten Störprozesse am AD- Wandlerausgang enthält die Arbeit eine Vielzahl von Simulationsergebnissen, die die analytisch gewonnenen Ergebnisse bestätigen und die Eigenschaften der resultierenden Störprozesse verdeutlichen.