Electron Microscopy and Multiscale Modeling
Proceedings of The EMMM-2007 International Conference
(Sprache: Englisch)
The EMMM-2007 Conference brought together leading experts in electron microscopy and materials modeling from around the world to explore how to synergistically combine atomic scale characterization and modeling to enhance the development of new materials.
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Produktinformationen zu „Electron Microscopy and Multiscale Modeling “
Klappentext zu „Electron Microscopy and Multiscale Modeling “
The EMMM-2007 Conference brought together leading experts in electron microscopy and materials modeling from around the world to explore how to synergistically combine atomic scale characterization and modeling to enhance the development of new materials.
Bibliographische Angaben
- 2008, VIII, 300 Seiten, Maße: 17 x 24,4 cm, Gebunden, Englisch
- Herausgeber: Avilov, Anatoly S., Dudarev, Sergei L., Marks, Laurence D.
- Herausgegeben: Anatoly S. Avilov, Sergei L. Dudarev, Laurence D. Marks
- Verlag: Springer
- ISBN-10: 0735405190
- ISBN-13: 9780735405196
Sprache:
Englisch
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