Produktdetails
Produktinformationen zu „Ekai, R: Optoelectronic characterisation of Si/SiNx interfac “
Bibliographische Angaben
- Autor: Richard T Ekai
- 2001, 139 Seiten, 74 Abbildungen, Kartoniert (TB), Englisch
- Verlag: Shaker
- ISBN-10: 3826586727
- ISBN-13: 9783826586729
Sprache:
Englisch
Kommentar zu "Ekai, R: Optoelectronic characterisation of Si/SiNx interfac"
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