Simulação de gradientes de tensão em materiais e ligas metálicas
Análise de Fourier e da largura integral do perfil de difração para gradiente de tensões superficiais
(Sprache: Portugiesisch)
As tensões residuais influenciam o comportamento mec
nico dos metais e ligas determinando o desempenho do material. O método padrão da difração de raios X para medir tensões residuais (Método sin2psi) apresenta limitações na determinação de tensões...
nico dos metais e ligas determinando o desempenho do material. O método padrão da difração de raios X para medir tensões residuais (Método sin2psi) apresenta limitações na determinação de tensões...
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As tensões residuais influenciam o comportamento mecnico dos metais e ligas determinando o desempenho do material. O método padrão da difração de raios X para medir tensões residuais (Método sin2psi) apresenta limitações na determinação de tensões caracterizadas por alto gradiente. O estudo do gradiente de tensão superficial é um importante problema teórico e experimental em mec
nica, especialmente no caso da análise de tensões superficiais que surgem após tratamentos superficiais. Neste trabalho, desenvolvemos metodologias para a simulação computacional do comportamento de materiais na presença de distribuições de tensão caracterizadas por alto gradiente. Foi aplicada a modelagem para diferentes tipos de tensões com gradiente em materiais e ligas metálicas. As metodologias desenvolvidas usam a análise de Fourier e a largura integral dos perfis de difração para determinar os par
metros do gradiente. Suas caraterísticas e resultados são comparados.
Autoren-Porträt von Susana Marrero Iglesias, Joaquim T de Assis, Vladimir Monine
Marrero Iglesias, SusanaSusana M Iglesias é natural de Cuba y se formou em Ciência da Computação na Universidade da Habana em 98. É doutora pela Universidade Estadual de Rio de Janeiro desde 2008 e professora titular da Universidade Estadual de Santa Cruz na Bahia. Pesquisa em simulação e modelagem de END, processamento de sinais, análise de materiais e microtomografia.
Bibliographische Angaben
- Autoren: Susana Marrero Iglesias , Joaquim T de Assis , Vladimir Monine
- 2019, 132 Seiten, Maße: 22 cm, Kartoniert (TB), Portugiesisch
- Verlag: Novas Edicioes Academicas
- ISBN-10: 613975058X
- ISBN-13: 9786139750580
Sprache:
Portugiesisch
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