Theoretische Bewertung der Reflexion in AL/SiO2-Dünnschichten
SPUTTERING abgelagert für optische Beschichtungsanwendungen
Die Verbesserung der optischen Eigenschaften eines Materials, wie z. B. des Reflexionsgrads, beinhaltet die komplexe Suche nach den optimalen experimentellen Parametern bei deren Gewinnung. Die Verwendung von Berechnungssoftware für die Simulation dieser...
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Klappentext zu „Theoretische Bewertung der Reflexion in AL/SiO2-Dünnschichten “
Die Verbesserung der optischen Eigenschaften eines Materials, wie z. B. des Reflexionsgrads, beinhaltet die komplexe Suche nach den optimalen experimentellen Parametern bei deren Gewinnung. Die Verwendung von Berechnungssoftware für die Simulation dieser Dünnschichtwachstumsprozesse stellt einen wesentlichen Vorteil dar, da keine Abhängigkeit von einem realen System besteht und ein breiterer Bereich der beteiligten physikalischen Größen untersucht werden kann. Darüber hinaus gibt es einen Bedarf in der Automobilindustrie, Varroc Lighting Systems© wurde mit der Aufgabe betraut, den Reflexionsgrad von aluminisierten Scheinwerfern zu verbessern. Daher haben wir die Entwicklung mit der Software NASCAM® durchgeführt, die die kinetische Monte-Carlo-Methode verwendet, um ein Modell des zu untersuchenden physikalischen Systems auf einer nanometrischen Skala zu entwickeln, was uns erlaubt, den Einfluss verschiedener Größen zu analysieren, die den Reflexionsgrad des Materials beeinflussen können.
Autoren-Porträt von Jesús Javier Ortega Cabrera
Ortega Cabrera, Jesús JavierJesús Javier Ortega Cabrera: Master in Ingenieurwissenschaften mit Ausrichtung auf Materialien, Fakultät für Maschinenbau und Elektrotechnik, Universidad Autónoma de Nuevo León.
Bibliographische Angaben
- Autor: Jesús Javier Ortega Cabrera
- 2021, 84 Seiten, Maße: 22 cm, Kartoniert (TB), Deutsch
- Verlag: Verlag Unser Wissen
- ISBN-10: 6203622192
- ISBN-13: 9786203622195
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