Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM) (PDF)
(Sprache: Englisch)
"Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)" describes the basic concepts and operative techniques of AEM. It focuses on the study of phase transformations and dislocation in deformation by AEM. Further, the book also...
Leider schon ausverkauft
eBook
128.35 €
64 DeutschlandCard Punkte
sammeln
- Lastschrift, Kreditkarte, Paypal, Rechnung
- Kostenloser tolino webreader
Produktdetails
Produktinformationen zu „Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM) (PDF)“
"Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)" describes the basic concepts and operative techniques of AEM. It focuses on the study of phase transformations and dislocation in deformation by AEM. Further, the book also presents the physical concepts and mathematic analysis for diffraction and crystallography using numerous examples, such as the quantitative prediction of the orientation relationships in phase transformations. The book is intended for researchers and graduate students in materials science and engineering, and condensed matter physics. Yonghua Rong is a professor at School of Materials Science and Engineering, Shanghai Jiao Tong University, China.
Bibliographische Angaben
- Autor: Yonghua Rong
- 2012, 500 Seiten, Englisch
- Verlag: Springer Berlin
- ISBN-10: 3642201199
- ISBN-13: 9783642201196
- Erscheinungsdatum: 05.03.2012
Abhängig von Bildschirmgröße und eingestellter Schriftgröße kann die Seitenzahl auf Ihrem Lesegerät variieren.
eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Mit Kopierschutz
Sprache:
Englisch
Kopierschutz
Dieses eBook können Sie uneingeschränkt auf allen Geräten der tolino Familie lesen. Zum Lesen auf sonstigen eReadern und am PC benötigen Sie eine Adobe ID.
Kommentar zu "Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)"
0 Gebrauchte Artikel zu „Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)“
| Zustand | Preis | Porto | Zahlung | Verkäufer | Rating |
|---|
Schreiben Sie einen Kommentar zu "Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)".
Kommentar verfassen