Digital Circuit Testing (PDF)
A Guide to DFT and Other Techniques
(Sprache: Englisch)
Recent technological advances have created a testing crisis in the electronics industry--smaller, more highly integrated electronic circuits and new packaging techniques make it increasingly difficult to physically access test nodes. New testing methods are...
sofort als Download lieferbar
eBook (pdf)
54.95 €
27 DeutschlandCard Punkte
sammeln
- Lastschrift, Kreditkarte, Paypal, Rechnung
- Kostenloser tolino webreader
Produktdetails
Produktinformationen zu „Digital Circuit Testing (PDF)“
Recent technological advances have created a testing crisis in the electronics industry--smaller, more highly integrated electronic circuits and new packaging techniques make it increasingly difficult to physically access test nodes. New testing methods are needed for the next generation of electronic equipment and a great deal of emphasis is being placed on the development of these methods. Some of the techniques now becoming popular include design for testability (DFT), built-in self-test (BIST), and automatic test vector generation (ATVG). This book will provide a practical introduction to these and other testing techniques. For each technique introduced, the author provides real-world examples so the reader can achieve a working knowledge of how to choose and apply these increasingly important testing methods.
Bibliographische Angaben
- Autor: Francis C. Wong
- 2012, 228 Seiten, Englisch
- Verlag: Elsevier Science & Techn.
- ISBN-10: 0080504345
- ISBN-13: 9780080504346
- Erscheinungsdatum: 02.12.2012
Abhängig von Bildschirmgröße und eingestellter Schriftgröße kann die Seitenzahl auf Ihrem Lesegerät variieren.
eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 21 MB
- Mit Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
Kopierschutz
Dieses eBook können Sie uneingeschränkt auf allen Geräten der tolino Familie lesen. Zum Lesen auf sonstigen eReadern und am PC benötigen Sie eine Adobe ID.
Pressezitat
"The text, Digital Circuit Testing: A Guide to DFT and Other Techniques, introduces the reader to the whole spectrum of digital test technology, covering some facets in more detail than others....This book is intended to be an introduction to straight-forward testing techniques, easily applicable to the daily work of design and test engineers or as a course or reference text. The author accomplishes his purpose succinctly and in an easy-to-understand style."--IEEE, INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT SOCIETY NEWSLETTER
Kommentar zu "Digital Circuit Testing"
0 Gebrauchte Artikel zu „Digital Circuit Testing“
| Zustand | Preis | Porto | Zahlung | Verkäufer | Rating |
|---|
Schreiben Sie einen Kommentar zu "Digital Circuit Testing".
Kommentar verfassen