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Entwicklung einer Methode zur Untersuchung der Zusammenhänge zwischen kritischen Designgrößen und Ausfällen bei der Produktion digitaler Logikchips (PDF)

 
 
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Inhaltsangabe:Einleitung:
Design for Manufacturing (DfM) und Design for Test (DfT) sind der Schlüssel zur wirtschaftlichen Halbleiterproduktion der neuen Technologiegenerationen. Damit ein schnelles Ramp-up mit anschließend hoher Ausbeute erreicht werden...
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