International Series on Advances in Solid State Electronics and Technology: Ionizing Radiation Effects in MOS Oxides (PDF)
(Sprache: Englisch)
This volume is intended to serve as an updated critical guide to the extensive literature on the basic physical mechanisms controlling the radiation and reliability responses of MOS oxides. The last such guide was Ionizing Radiation Effects in MOS D
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Produktinformationen zu „International Series on Advances in Solid State Electronics and Technology: Ionizing Radiation Effects in MOS Oxides (PDF)“
This volume is intended to serve as an updated critical guide to the extensive literature on the basic physical mechanisms controlling the radiation and reliability responses of MOS oxides. The last such guide was Ionizing Radiation Effects in MOS D
Bibliographische Angaben
- Autor: Timothy R Oldham
- 2000, Englisch
- ISBN-10: 9812813640
- ISBN-13: 9789812813640
- Erscheinungsdatum: 25.01.2000
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 8.45 MB
- Mit Kopierschutz
Sprache:
Englisch
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