Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II / Springer Series in Chemical Physics Bd.9 (PDF)
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
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Produktinformationen zu „Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II / Springer Series in Chemical Physics Bd.9 (PDF)“
Bibliographische Angaben
- 2013, 1979, 300 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: A. Benninghoven, C. A. Jr. Evans, R. A. Powell, R. Shimizu, H. A. Storms
- Verlag: Springer Berlin Heidelberg
- ISBN-10: 3642618715
- ISBN-13: 9783642618710
- Erscheinungsdatum: 11.11.2013
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 42 MB
- Ohne Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Sprache:
Englisch
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