Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen (PDF)
Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen
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Produktdetails
Produktinformationen zu „Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen (PDF)“
Bibliographische Angaben
- Autor: Dieter Lipinsky
- 2013, 1995, 211 Seiten, Deutsch
- Verlag: Deutscher Universitätsvlg
- ISBN-10: 3663145581
- ISBN-13: 9783663145585
- Erscheinungsdatum: 29.07.2013
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 18 MB
- Ohne Kopierschutz
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Kommentar zu "Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen"
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