X-ray Characterization of Materials (PDF)
(Sprache: Englisch)
Die Charakterisierung der verwendeten Materialien ist für die systematische Entwicklung neuer Werkstoffe essentiell. Die röntgenografische Analyse spielt dabei eine große Rolle für die Aufklärung der elementaren Zusammensetzung und Kristall- bzw....
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Produktdetails
Produktinformationen zu „X-ray Characterization of Materials (PDF)“
Die Charakterisierung der verwendeten Materialien ist für die systematische Entwicklung neuer Werkstoffe essentiell. Die röntgenografische Analyse spielt dabei eine große Rolle für die Aufklärung der elementaren Zusammensetzung und Kristall- bzw. Kornstrukturen aller Werkstoffarten.
Dieses Handbuch gibt einen verständlichen Überblick über alle Grundlagen und Anwendungen moderner röntgenografischer Analytik in den Materialwissenschaften. Besonderes Gewicht wird auf die Diskussion moderner Entwicklungen bei diesen Techniken gelegt.
Die dargebotene Informationsfülle macht es zu einem Standardwerk für jeden in der Materialentwicklung und -forschung tätigen Ingenieur und Wissenschaftler.
Dieses Handbuch gibt einen verständlichen Überblick über alle Grundlagen und Anwendungen moderner röntgenografischer Analytik in den Materialwissenschaften. Besonderes Gewicht wird auf die Diskussion moderner Entwicklungen bei diesen Techniken gelegt.
Die dargebotene Informationsfülle macht es zu einem Standardwerk für jeden in der Materialentwicklung und -forschung tätigen Ingenieur und Wissenschaftler.
Inhaltsverzeichnis zu „X-ray Characterization of Materials (PDF)“
X-Ray Diffraction (Snyder) Application of Synchrotron X-Radiation to Problems in Materials Science (Gerson) X-Ray Fluorescence Analysis (Jenkins) Small-Angle Scattering of X-Rays and Neutrons (Williams)
Bibliographische Angaben
- 2008, 1. Auflage, 261 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Eric Lifshin
- Verlag: Wiley-VCH
- ISBN-10: 3527613757
- ISBN-13: 9783527613755
- Erscheinungsdatum: 11.07.2008
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eBook Informationen
- Dateiformat: PDF
- Größe: 21 MB
- Mit Kopierschutz
Sprache:
Englisch
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