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Oberflächenanalyse von Si/SiGe-Schichten
Harald Sander
38.00 €
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse / Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen Bd.3049
Günther~ von&xc Bünau
36.99 €
High-Resolution X-Ray Scattering
Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach
128.39 €
Atlas. Die Geschichte von Pa Salt
Lucinda Riley, Harry Whittaker
Statt 24.00 € 5
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Die Waffen des Lichts / Kingsbridge Bd. 5
Ken Follett
Statt 36.00 € 5
22.00 € 4
Lied der Rache / Cristina Bd. 3
Iny Lorentz
17.00 €
Am liebsten würde ich auf der Waage eine Null stehen haben
Brigitte Strehl
12.95 €
Hängepartie / Liebesnöter
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Die Insel der Herzkirschen
Katryn Berlinger
7.00 €
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