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Applied General Relativity

Michael H. Soffel, Wen-Biao Han

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Mass Metrology

S. V. Gupta

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Introduction to Statistics in Metrology

Stephen Crowder, Collin Delker, Eric Forrest, Nevin Martin

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Metrology

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Erschienen am 13.10.2019
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Introduction to Quantum Metrology

Waldemar Nawrocki

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Erschienen am 16.07.2016
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Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology

Y Zhao, T Kramer, Robert Brown, Xun Xu

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Distributed Large-Scale Dimensional Metrology

Fiorenzo Franceschini, Maurizio Galetto, Domenico Maisano, Luca Mastrogiacomo, Barbara Pralio

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An important question in metrology

Charles Adiel Lewis Totten

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Erschienen am 29.08.2018
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Digital Holographic Methods

Stephan Stuerwald

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Erschienen am 25.10.2018
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Applied General Relativity

Michael H. Soffel, Wen-Biao Han

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The New International System of Units (SI)

Ernst O. Göbel, Uwe Siegner

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Dekorierter Weihnachtsbaum
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Erschienen am 31.07.2019
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Mass Metrology

S. V. Gupta

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Erschienen am 02.04.2019
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Quality Assurance for Chemistry and Environmental Science

Günther Meinrath, Petra Schneider

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Metronariston

John Warner

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Erschienen am 04.11.2016
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Erschienen am 06.09.2019
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Modern metrology

Lowis Jackson

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Erschienen am 24.08.2018
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