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An important question in metrology

Charles Adiel Lewis Totten

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Erschienen am 29.08.2018

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Digital Holographic Methods

Stephan Stuerwald

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Erschienen am 25.10.2018

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Quantum Metrology, Imaging, and Communication

David S. Simon, Gregg Jaeger, Alexander V. Sergienko

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Erschienen am 08.12.2016

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Mass Metrology

S. V. Gupta

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Erschienen am 02.04.2019

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Metrology

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Erschienen am 13.10.2019

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Advances in Manufacturing II

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Introduction to Quantum Metrology

Waldemar Nawrocki

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Quality Assurance for Chemistry and Environmental Science

Günther Meinrath, Petra Schneider

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Introduction to Statistics in Metrology

Stephen Crowder, Collin Delker, Eric Forrest, Nevin Martin

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Applied General Relativity

Michael H. Soffel, Wen-Biao Han

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Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5

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High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications

Shichang Du, Lifeng Xi

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Advances in Metrology and Measurement of Engineering Surfaces

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High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications

Shichang Du, Lifeng Xi

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A Practical Guide to Surface Metrology

Michael Quinten

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Metrology in Chemistry

Ewa Bulska

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Applied General Relativity

Michael H. Soffel, Wen-Biao Han

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The New International System of Units (SI)

Ernst O. Göbel, Uwe Siegner

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Erschienen am 31.07.2019

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Mass Metrology

S. V. Gupta

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Metronariston

John Warner

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Erschienen am 04.11.2016

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Modern metrology

Lowis Jackson

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Erschienen am 24.08.2018

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Pharmaceutical Problems and Exercises

Oscar Oldberg

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Erschienen am 06.09.2019

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