VLSI 2010 Annual Symposium
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VLSI 2010 Annual Symposium / Lecture Notes in Electrical Engineering Bd.105
Konstantinos Masselos, Michael Huebner, Amar Mukherjee, Nikolaos Voros, Nicolas Sklavos
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits under Uncertainty
Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes
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90.94 €
Embedded Systems Design for High-Speed Data Acquisition and Control
Maurizio Di Paolo Emilio
119.99 €
- X, 346 Seiten, 27 Schwarz-Weiß-Abbildungen, Maße: 16 x 24,1 cm, Gebunden, Englisch
- Verlag: Springer Netherlands
- ISBN-10: 9400714874
- ISBN-13: 9789400714878
- Erscheinungsdatum: 10.09.2011
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