Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems / Springer Tracts in Modern Physics Bd.269 (PDF)
64 DeutschlandCard Punkte sammeln
- Lastschrift, Kreditkarte, Paypal, Rechnung
- Kostenloser tolino webreader
The research and its outcomes presented here is devoted to the use of x-ray scattering to study correlated electron systems and magnetism. Different x-ray based methods are provided to analyze three dimensional electron systems and the structure of transition-metal oxides. Finally the observation of multipole orderings with x-ray diffraction is shown.
Prof. Dr. Sumio Ishihara is head of the Theory of Condensed Matter Physics group in the Department of Physics at Tohoku University in Japan.
- 2016, 1st ed. 2017, 241 Seiten, Englisch
- Herausgegeben: Youichi Murakami, Sumio Ishihara
- Verlag: Springer-Verlag GmbH
- ISBN-10: 3662532271
- ISBN-13: 9783662532270
- Erscheinungsdatum: 27.12.2016
Abhängig von Bildschirmgröße und eingestellter Schriftgröße kann die Seitenzahl auf Ihrem Lesegerät variieren.
- Dateiformat: PDF
- Größe: 12 MB
- Ohne Kopierschutz
- Vorlesefunktion
Zustand | Preis | Porto | Zahlung | Verkäufer | Rating |
---|
Schreiben Sie einen Kommentar zu "Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems / Springer Tracts in Modern Physics Bd.269".
Kommentar verfassen