Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (PDF)
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This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed.
- Autoren: Joseph Goldstein , Dale E. Newbury , David C. Joy , Charles E. Lyman , Patrick Echlin , Eric Lifshin , Linda Sawyer , J. R. Michael
- 2012, 3rd ed. 2003, 689 Seiten, Englisch
- Verlag: Springer US
- ISBN-10: 1461502152
- ISBN-13: 9781461502159
- Erscheinungsdatum: 06.12.2012
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