Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals

A Scanning Probe Microscopy Approach (Sprache: Englisch)
 
 
Merken
Merken
 
 
This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers' understanding and...
Jetzt vorbestellen
versandkostenfrei

Bestellnummer: 91839803

Buch (Gebunden) 106.99
Jetzt vorbestellen

DeutschlandCard 53 DeutschlandCard Punkte sammeln

  • Lastschrift, Kreditkarte, Paypal, Rechnung
  • Kostenlose Rücksendung
  • Ratenzahlung möglich
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
Kommentar zu "Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals"
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
 
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
  •  
     
     
     
     
0 Gebrauchte Artikel zu „Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals“
Zustand Preis Porto Zahlung Verkäufer Rating