X-ray Characterization of Materials
(Sprache: Englisch)
Die Charakterisierung der verwendeten Materialien ist für die systematische Entwicklung neuer Werkstoffe essentiell. Die röntgenografische Analyse spielt dabei eine große Rolle für die Aufklärung der elementaren Zusammensetzung und Kristall- bzw....
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Produktinformationen zu „X-ray Characterization of Materials “
Die Charakterisierung der verwendeten Materialien ist für die systematische Entwicklung neuer Werkstoffe essentiell. Die röntgenografische Analyse spielt dabei eine große Rolle für die Aufklärung der elementaren Zusammensetzung und Kristall- bzw. Kornstrukturen aller Werkstoffarten.
Dieses Handbuch gibt einen verständlichen Überblick über alle Grundlagen und Anwendungen moderner röntgenografischer Analytik in den Materialwissenschaften. Besonderes Gewicht wird auf die Diskussion moderner Entwicklungen bei diesen Techniken gelegt.
Die dargebotene Informationsfülle macht es zu einem Standardwerk für jeden in der Materialentwicklung und -forschung tätigen Ingenieur und Wissenschaftler.
Dieses Handbuch gibt einen verständlichen Überblick über alle Grundlagen und Anwendungen moderner röntgenografischer Analytik in den Materialwissenschaften. Besonderes Gewicht wird auf die Diskussion moderner Entwicklungen bei diesen Techniken gelegt.
Die dargebotene Informationsfülle macht es zu einem Standardwerk für jeden in der Materialentwicklung und -forschung tätigen Ingenieur und Wissenschaftler.
Inhaltsverzeichnis zu „X-ray Characterization of Materials “
From the contents:X-Ray Diffraction (Snyder)
Application of Synchrotron X-Radiation to Problems in Materials Science (Gerson)
X-Ray Fluorescence Analysis (Jenkins)
Small-Angle Scattering of X-Rays and Neutrons (Williams)
Bibliographische Angaben
- 1999, XVI, 261 Seiten, mit Schwarz-Weiß-Abbildungen, Maße: 24,5 cm, Gebunden, Englisch
- Ed. by Eric Lifshin
- Verlag: Wiley-VCH
- ISBN-10: 3527296573
- ISBN-13: 9783527296576
Sprache:
Englisch
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